產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心比表面測(cè)試儀202A-比表面儀孔徑分析儀
product
產(chǎn)品分類比表面孔徑測(cè)量分析儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
比表面氦孔隙度分析測(cè)試儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
炭黑孔隙率比表面分析儀測(cè)定借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
孔隙率比表面分析測(cè)試儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。
孔隙率與比表面分析測(cè)試測(cè)量?jī)x借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分析。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測(cè)定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。